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Compact WIL瑞士丹青進(jìn)口白光干涉微觀形貌粗糙度儀

瑞士丹青進(jìn)口白光干涉微觀形貌粗糙度儀 瑞士丹青Compact WLI白光干涉微觀形貌及粗糙度儀是用于記錄3D形貌光學(xué)測(cè)量技術(shù),其分辨率高達(dá)納米級(jí)。測(cè)量點(diǎn)平行采集和處理,大面積的高度信息可以在很短時(shí)間內(nèi)采集。研究和質(zhì)量管理過(guò)程中的典型應(yīng)用有:物體表面的不同粗糙度特性(晶圓結(jié)構(gòu)、鏡面、玻璃、金屬等)、確定高度變化以及曲面的精密測(cè)量(如微透鏡等)。

更新日期:2024-04-24

型號(hào):Compact WIL

訪問(wèn)次數(shù):740

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